Межинститутский семинар УрО РАН - Синхротроны в материаловедении
02 декабря, 14:00-16:00, Актовый зал ИХТТ УрО РАН, Первомайская 91, 5-й этаж
Новые возможности для решения задач материаловедения на новых источниках синхротронного излучения
Толочко Борис Петрович
д.х.н., заведующий лабораторией Института химии твердого тела и механохимии СО РАН, руководитель работ направления «Дифракция» Сибирского центра синхротронного и терагерцового излучения Института ядерной физики СО РАН
Современные источники СИ являются центрами коллективного пользования, в которых размещается до несколько десятков исследовательских установок-станций, использующих СИ. Во многих современных центрах СИ такие экспериментальные станции работают непрерывно, обслуживая сотни пользовательских групп в год.
Области, в которых сегодня используется СИ, очень разнообразны. Прежде всего, это научные исследования в различных областях знаний – от ядерной физики до молекулярной биологии и материаловедения, использующие весь набор современных методов, доступных с использованием классических источников, а также новые методические разработки, созданные именно для СИ и принципиально нереализуемые с помощью других источников электромагнитного излучения.
В настоящее время в мире работает более 30 центров СИ и ведется активное строительство новых центров. В России с конца 70-х годов постоянно действует Сибирский центр синхротронного излучения (СЦСИ) на базе Института ядерной физики им. Г.И.Будкера Сибирского отделения РАН в Новосибирске. Начаты экспериментальные работы на Курчатовском источнике синхротронного излучения (КИСИ). Разработан проект источника СИ для Казахстана. Обсуждается проект источника СИ для Екатеринбурга.
Ориентировочный план доклада
1.Введение
2.Устройство источников СИ
2.1.Параметры источников СИ 3-го и 4-го поколений
2.2.Рентгеновские лазеры на свободных электронах
2.3.Компоненты экспериментальных станций, использующих СИ
3.Классификация рентгеновских методов исследования вещества
3.1.Рентгеновская спектроскопия
3.1.1.Рентгеновская спектроскопия поглощения
3.1.2.Рентгенофлуоресцентная спектроскопия
3.2.Дифракционные методы
3.2.1.Рентгеноструктурный анализ
3.2.2.Рентгенография порошка
3.2.3.Использование аномальной дисперсии
3.2.4.Малоугловое рассеяние
3.3.Неупругое рентгеновское рассеяние
3.4.Методы получения изображения
3.5.Метод стоячих рентгеновских волн
3.6.Методы исследования поверхности с использованием скользящего падения
3.7.Использование поляризации СИ
4.Исследования в экстремальных условиях
5.Исследования с высоким временным разрешением
6.Исследования с пространственным разрешением
7.Основные направления развития прикладных исследований с использованием СИ
По вопросам проведения семинара обращаться к Ремпелю А.А., ИХТТ УрО РАН, тел. 374 73 06
